Rastrovací elektronový mikroskop: Porovnání verzí
m link |
m robot přidal: ca, it změnil: ar, ru |
||
Řádek 34: | Řádek 34: | ||
[[Kategorie:Elektrické přístroje]] |
[[Kategorie:Elektrické přístroje]] |
||
[[ar:مجهر إلكتروني ماسح]] |
|||
[[ar:المجهر الإلكتروني الماسح]] |
|||
[[ca:Microscopi electrònic de rastreig]] |
|||
[[de:Rasterelektronenmikroskop]] |
[[de:Rasterelektronenmikroskop]] |
||
[[en:Scanning electron microscope]] |
[[en:Scanning electron microscope]] |
||
Řádek 40: | Řádek 41: | ||
[[fa:میکروسکوپ الکترونی روبشی]] |
[[fa:میکروسکوپ الکترونی روبشی]] |
||
[[fr:Microscopie électronique à balayage]] |
[[fr:Microscopie électronique à balayage]] |
||
[[it:Microscopio elettronico a scansione]] |
|||
[[ja:走査型電子顕微鏡]] |
[[ja:走査型電子顕微鏡]] |
||
[[nl:Rasterelektronenmicroscoop]] |
[[nl:Rasterelektronenmicroscoop]] |
||
[[pl:Elektronowy mikroskop skaningowy]] |
[[pl:Elektronowy mikroskop skaningowy]] |
||
[[pt:Microscópio eletrônico de varredura]] |
[[pt:Microscópio eletrônico de varredura]] |
||
[[ru: |
[[ru:Растровый электронный микроскоп]] |
||
[[sl:Vrstični elektronski mikroskop]] |
[[sl:Vrstični elektronski mikroskop]] |
||
[[uk:Скануючий електронний мікроскоп]] |
[[uk:Скануючий електронний мікроскоп]] |
Verze z 21. 1. 2010, 05:32
Rastrovací, nebo též řádkovací elektronový mikroskop (angl. scanning electron microscope, SEM) je elektronový mikroskop, který využívá k zobrazování pohyblivého svazku elektronů.
Princip SEM
Na každé místo vzorku je zaměřen úzký paprsek elektronů (prochází jej po řádcích – odtud řádkovací). Interakcí dopadajících elektronů s materiálem vzorku vznikají různě detekovatelné složky. Jak paprsek putuje po vzorku, mění se podle charakteru povrchu úroveň signálu v detektoru. Z těchto signálů je pak sestavován výsledný obraz. Získaný obraz je standardně monochromatický.
Elektronový tubus
Zdrojem elektronů je elektronová tryska, nejčastěji wolframové žhavené vlákno, umístěné v tzv. Wehneltově válci.
Elektrony jsou urychlovány směrem k vzorku urychlovacím napětím (typicky 0,1-30kV).
Svazek elektronů (paprsek) je upravován, zaostřován elektromagnetickými čočkami. Tubus obsahuje zpravidla jednu nebo více kondenzorových čoček, objektivovou čočku, vychylovací cívky rastrů a cívky stigmátorů pro korekci astigmatismu. Dopad paprsku elektronů na vzorek způsobí emisi sekundárních elektronů ze vzorku, které jsou pak analyzovány a detekovány.
Důležité pojmy
- zvětšení - vzniká větším či menším vychýlením svazku pomocí rastrovacích cívek
- pracovní vzdálenost - vzdálenost na kterou je paprsek zaostřen objektivem
- proud ve stopě - proud (množství elektronů) dopadající na vzorek
- velikost stopy - průměr svazku v místě dopadu na vzorek
- rozlišení - schopnost rozlišit dva body (přibližně polovina stopy)
Související články
Externí odkazy
Obrázky, zvuky či videa k tématu rastrovací elektronový mikroskop na Wikimedia Commons Historie elektronové mikroskopie na Akademii věd v Brně (v obrazech) Galerie snímků z REM od brněnské fy Tescan