Mikroskopie temného pole

Z Wikipedie, otevřené encyklopedie
Skočit na navigaci Skočit na vyhledávání
Princip mikroskopie temného pole

Mikroskopie temného pole, označovaná také jako DFM (anglicky darkfield microscopy) je typ světelné mikroskopie, při němž do objektivu vstupuje pouze světlo difraktované, refraktované a odražené objektem. Světlo, které pouze prochází, objektiv mine. Toho je docíleno pomocí kruhové clony, které propouští jen úzký prstenec světla podél jejího obvodu. Světlo za clonou následně prochází tak šikmo k rovině přístroje, že vstupuje do objektivu jen tehdy, dostane-li se mu do cesty pozorovaný objekt. Objekty jsou proto při mikroskopii temného pole pozorovány jako světlé předměty na tmavém pozadí (temném poli).[1]

Reference[editovat | editovat zdroj]

  1. DAVIDSON, MW; ABRAMOWITZ, M. Optical Microscopy. [s.l.]: [s.n.]