Rastrovací elektronový mikroskop: Porovnání verzí
m →Externí odkazy: commonscat |
m link |
||
Řádek 15: | Řádek 15: | ||
== Důležité pojmy == |
== Důležité pojmy == |
||
[[Soubor:Neutrophil with anthrax copy.jpg|thumb|left|Kolorovaná [[mikrofotografie]] z rastrovacího elektronového mikroskopu]] |
[[Soubor:Neutrophil with anthrax copy.jpg|thumb|left|[[kolorování|Kolorovaná]] [[mikrofotografie]] z rastrovacího elektronového mikroskopu]] |
||
*[[zvětšení]] - vzniká větším či menším vychýlením svazku pomocí rastrovacích cívek |
*[[zvětšení]] - vzniká větším či menším vychýlením svazku pomocí rastrovacích cívek |
||
*[[pracovní vzdálenost]] - vzdálenost na kterou je paprsek zaostřen objektivem |
*[[pracovní vzdálenost]] - vzdálenost na kterou je paprsek zaostřen objektivem |
Verze z 16. 12. 2009, 23:22
Rastrovací, nebo též řádkovací elektronový mikroskop (angl. scanning electron microscope, SEM) je elektronový mikroskop, který využívá k zobrazování pohyblivého svazku elektronů.
Princip SEM
Na každé místo vzorku je zaměřen úzký paprsek elektronů (prochází jej po řádcích – odtud řádkovací). Interakcí dopadajících elektronů s materiálem vzorku vznikají různě detekovatelné složky. Jak paprsek putuje po vzorku, mění se podle charakteru povrchu úroveň signálu v detektoru. Z těchto signálů je pak sestavován výsledný obraz. Získaný obraz je standardně monochromatický.
Elektronový tubus
Zdrojem elektronů je elektronová tryska, nejčastěji wolframové žhavené vlákno, umístěné v tzv. Wehneltově válci.
Elektrony jsou urychlovány směrem k vzorku urychlovacím napětím (typicky 0,1-30kV).
Svazek elektronů (paprsek) je upravován, zaostřován elektromagnetickými čočkami. Tubus obsahuje zpravidla jednu nebo více kondenzorových čoček, objektivovou čočku, vychylovací cívky rastrů a cívky stigmátorů pro korekci astigmatismu. Dopad paprsku elektronů na vzorek způsobí emisi sekundárních elektronů ze vzorku, které jsou pak analyzovány a detekovány.
Důležité pojmy
- zvětšení - vzniká větším či menším vychýlením svazku pomocí rastrovacích cívek
- pracovní vzdálenost - vzdálenost na kterou je paprsek zaostřen objektivem
- proud ve stopě - proud (množství elektronů) dopadající na vzorek
- velikost stopy - průměr svazku v místě dopadu na vzorek
- rozlišení - schopnost rozlišit dva body (přibližně polovina stopy)
Související články
Externí odkazy
Obrázky, zvuky či videa k tématu rastrovací elektronový mikroskop na Wikimedia Commons Historie elektronové mikroskopie na Akademii věd v Brně (v obrazech) Galerie snímků z REM od brněnské fy Tescan