Popis

• Figure Caption: Two examples of images from an ESEM. Taken with a Philips XL-30 FEG. The first shows an electron beam deposited nanowire between two microelectrodes that has burnt after sustaining a high bias current. The other shows a multiwall carbon nanotube sample. Shorter working distances often improve image quality and so does a low beam current but it also increases the image acquisition time.

• Thanks to Haldor Topsøe A/S for ESEM time.

• This illustration was made for the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology

• Please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!

• The image also appears on the Commons/nanotechnology page

• Illustration by Kristian Molhave

Licence

Tento soubor podléhá licenci Creative Commons Uveďte autora 2.5 Generic

Dílo smíte:

• šířit – kopírovat, distribuovat a sdělovat veřejnosti
• upravovat – pozměňovat, doplňovat, využívat celé nebo částečně v jiných dílech

Za těchto podmínek:

• uveďte autora – Máte povinnost uvést autorství, poskytnout odkaz na licenci a uvést, pokud jste provedli změny. Toho můžete docílit jakýmkoli rozumným způsobem, avšak ne způsobem naznačujícím, že by poskytovatel licence schvaloval nebo podporoval vás nebo vaše užití díla.

https://creativecommons.org/licenses/by/2.5CC BY 2.5 Creative Commons Attribution 2.5 truetrue