Joint Test Action Group

Z Wikipedie, otevřené encyklopedie

Joint Test Action Group je standard definovaný normou IEEE 1149.1, tzv. Standard Test Access Port (TAP). Jedná se o architekturu Boundary-Scan pro testování plošných spojů, programování FLASH pamětí apod.

Obsah 1 Základní duhy signálů 2 JTAG Konektory 3 Použití 4 Reference 5 Externí odkazy

[editovat] Základní duhy signálů

1. TDI (Test Data In)
2. TDO (Test Data Out)
3. TCK (Test ClocK)
4. TMS (Test Mode Select)
5. nTRST (Test ReSeT) - volitelný

Data jsou přenášena sériově.

[editovat] JTAG Konektory

Přestože JTAG je standardizovaný, konektory na připojení JTAG adaptéru již nikoliv. Většina výrobců používá vlastní pinout, přičemž je většinou použit "pinheader" s roztečí 2.54mm. Obecně se napříč mezi výrobci rozšířilo jen pár zapojení JTAGu (zejména MIPS EJTAG, ARM JTAG) ^[1].

[editovat] Použití

JTAG je možné použít kromě primárního účelu, kterým je testování plošných spojů a interní funkce obvodů, také k programování flash pamětí, procesorů, FPGA, CPLD a dalších. K tomuto bylo vytvořeno několik standardů, např. IEEE 1532, JEDEC STAPL, nebo nestandardizovaný, ale hodně používaný Serial Vector Format ^[2].

[editovat] Reference

1. ↑ JTAG Pinouts [online]. [s.n.]. Dostupné: <[1]>.
2. ↑ PLD File Formats [online]. [s.n.]. Dostupné: <[2]>.

[editovat] Externí odkazy

• JTAG FAQ
• JTAG Standards