FEI Company
| FEI Company | |
| Právní forma | nadnárodní |
|---|---|
| Založeno | Albuquerque, New Mexico, USA (4. duben 1975) |
| Sídlo | Redmond, Washington, USA |
| Počet poboček | Oregon |
| Klíčoví lidé | Dr. Don R Kania, Prezident společnosti a CEO Raymond A. Link, Výkonný viceprezident a CFO Dr. Rob H.J. Fastenau, Výkonný vicepresident pro marketing s technologie Robert S. Gregg, Výkonný viceprezident pro celosvětový prodej a služby Bradley J. Thies, Vicepresident, General Counsel |
| Oblast výroby | Vědecké a technické nástroje – elektronové mikroskopy |
| Vyráběné produkty | FIB – fokusovaný iontový paprsek Rastrovací elektronové mikroskopy Transmisní elektronové mikroskopy DualBeam™ |
| Výsledek hospodaření | 479.5 milionu dolarů |
| Počet zaměstnanců | 1,770 (2010) |
| Oficiální web | www.fei.com |
FEI Company (NASDAQ) je společnost zabývající se vývojem a výrobou elektronových mikroskopů, byla založena v roce 1971. V současnosti jde o vedoucího dodavatele[1] elektronově a iontově optických zařízení pro širokou škálu výzkumníků, vývojářů i výrobců pracujících v nanometrech. Hlavními odběrateli jsou organizace působící v oblastech:
- výzkumu a vývoje – 3D nanocharakterizace, 3D nanoprototypování, in situ nanoprocesy
- přírodních věd – biomateriály, molekulární biologie, strukturální biologie, systémová biologie
- elektroniky – 3D metrologie, editování integrovaných obvodů, analýza defektů elektronických součástek
- průmyslu – automatizovaná mineralogie, kriminalistika, metalurgie, metrologie
Nástroje vyráběné FEI umožňují za pomoci elektronů a iontů analyzovat a manipulovat s částmi hmoty menšími než je hodnota jednoho angströmu, tedy menšími, než vlnová délka světla (na úrovni velikosti atomů). Nástroje FEI kombinují iontnová a elektronová záření (DualBeam™ systém (SDB)), poskytují 3D obraz a zjednodušují manipulovatelnost se vzorkem. FEI vyvíjí rastrovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronové mikroskopy a mimo jiné také komerčně využitelný mikroskop s celosvětově největším rozlišením[zdroj?]. Hlavní výzkumná střediska FEI sídlí v Severní Americe (Hillsboro – Oregon, USA) a v Evropě (Brno – Česká republika, Eindhoven – Nizozemí) a prodávají svá zařízení do více než 50 zemí celého světa.
Obsah |
Historie [editovat]
FEI ve světě
- 1949 - Philips Electron Optics uvádí na trh jako první na světě komerční využitelný transmisní elektronový mikroskop (TEM).
- 1958 - Philips Electron Optics prolomil hranici dosavadní viditelnosti 10 Ångströmů pomocí TEM EM200.
- 1971 – Založena společnost FEI, aby poskytovala vysoce čisté, orientované monokrystalické materiály pro výzkum autoemise.
- 1981 – FEI rozvíjí (LMI – liquid metal ion source – iontový zdroj na bázi tekutého kovu)
- 1982 - FEI prodává první tubuss iontovým svazkem používající zdroj na bázi tekutého kovu
- 1983 - FEI prodává první tubus s elektrostaticky fokusovaným svazkem
- Micrion is founded to develop ion beam systems for mask repair.)elektronový paprsek. Micrion se zaměřuje na rozvoj iontového paprsku pro opravu masek. Je založen Micrion, který vyvíjí systémy s iontovým svazkem pro opravy masek
- 1985 – Micrion, vyvíjející systémy s iontovým svazkem pro opravy masek, prodává své první systémy.
- 1989 - FEI prodává první kompletní FIB (zaostřený iontový svazek) pracovní stanici.
- 1990 - Philips Electron Optics uvádí na trh SEM pro šestipalcové polovodičové substráty.
- 1993 - První pracovní stanice DualBeam™ (zkřížený svazek elektronů a iontů pro diagnostiku struktur a jejich opracování včetně schopnosti vytvořit vzorek pro transmisní mikroskop, odprášení části vzorku a pohled do nitra vzorku) (FIB/SEM) produkovaná FEI a Philips Electron Optics.
- 1995 - FEI prodává stou FIB pracovní stanici.
- 1996 - FEI prodává pětitisící zdroj LMI. Micrion vydává svoji sérii 8000 FIB.
- 1996 - Philips Electron Optics získává se společností ElectroScan také jejich technologii ESEM (schopnosti zobrazit jakýkoliv vzorek bez jeho předběžné úpravy včetně dynamických experimentů, dobrých izolantů atd).
- 1996 - Philips Electron Optics získává Delmi Brno.
- 1997 - FEI a Philips Electron Optics fúzují. Vzniká první in-line DualBeam Spojení elektronového a iontového tubusu (svazku) v jednom zařízení
- 1998 - FEI a Micrion nezávisle na sobě nabízejí membránový ořez pro výpočetní průmysl (zálohování dat)
- 1998 - Představen TEM (Tecnai) vše v jednom.
- 1999 - FEI získává společnost Micrion Corporation a integruje její produktovou řadu.
- 2000 - Představena první malá stanice DualBeam.
- 2001 - FEI představuje DualBeam systém pro laboratoře.
- 2001 - První monochromátor (přístroj vyčleňující úzký obor vlnových délek z širšího spektra elektromagnetického vlnění) TEM. První TEM s monochromátorem – elektronovým svazkem s minimalizovaným rozptylem energie primárních elektronů
- 2002 - FEI získává společnost Atomika (SIMS).
- 2003 - FEI získává společnost Revise Inc.
- 2003 - FEI získává společnost Emispec.
- 2004 - FEI prolamuje dosavadní bariéru[zdroj?] rozlišení 1 angström s přístrojem 200kV Tecnai™.
- 2005 - FEI představuje transmisní elektronový mikroskop Titan se subangströmovým rozlišením
- 2006 - Korigovaný transmisní elektronový mikroskop prolamuje hranici 0,5 angströmu
- 2008 - FEI představuje Magellan, rastrovací elektronový mikroskop s extrémně vysokým rozlišením
Produkty FEI v Brně [editovat]
Brněnská pobočka FEI je poměrně úzce zaměřena na elektronové mikroskopy a FIB:
- Tři základní typy transmisních mikroskopů (Morgagni, Tecnai Spirit a Tecnai 20, určeny 200kV, 120kV a 100kV mikroskopy), určeny většinou pro biologické aplikace.
- Tři základní rodiny rastrovacích mikroskopů (Quanta, Magellan, Nova NanoSEM).
- Přístroje se dvěma svazky elektronů a iontů (DualBeam) spojující SEM a FIB (Quanta, Quanta 3D FEG). Viz [1]
- Moduly urychlovacích vysokonapěťových zdrojů od 30kV do 300kV (se stabilitou 10ppm resp lepší než 1ppm). Na stabilitě a přesnosti energetického zdroje záležela i stabilita a přesnost mikroskopu.
- Autoemisní trysky pro rastrovací mikroskopy.
- Iontové tubusy pro použití v zařízeních DualBeam, které vytvářejí a fokusují svazek iontů galia na preparátu velikosti stopy a průměru několik nanometrů pro zobrazení pomocí iontů.
| Rok | Typ přístroje | Vyrábí se v současnosti |
Specifikace | Typ | Fotografie |
|---|---|---|---|---|---|
| 1993 | EM208 | ne | První (TEM) přístroj vůbec | TEM | |
| 1996 | EM208S | ne | Inovovaná verze původního přístroje s motorizovanými posuvy | TEM | |
| 1997 | XL30TMP | ne | První SEM přístroj, nárůst aktivit | SEM | |
| 1998 | XL30ESEM | ne | První přístroj s ESEM technologií | SEM | |
| 2000 | XL40ESEM | ne | První ESEM se stolkem 150x150mm | SEM | |
| 2000 | Morgagni | ne | Radikálně přepracovaná verze rutinního TEM se zabudovanou digitální kamerou | TEM | |
| 2001 | Quanta | ne | Nová rodina rutiních SEM s možností zobrazit a analyzovat jakýkoliv vzorek | SEM | |
| 2002 | Quanta HV | ne | Vysokovakuová verze nové rodiny | SEM | |
| 2003 | Quanta FEG | ne | První přístroj a autoemisní katodou s nejširším zaběrem použitých detekcí a technologií | SEM | |
| 2003 | Quanta 3D | ano | První SDB s ESEM technologií | SDB | |
| 2004 | Tecnai G2 Spirit | ano | Transmisní mikroskop 120kV pro široké využití | TEM | |
| 2004 | Tecnai G2 20 | ano | Transmisní mikroskop 200kV pro široké využití | TEM | |
| 2005 | Nova NanoSEM | ano | První ultravysokorozlišovací SEM | SEM | |
| 2005 | Quanta MkII | ano | Inovace řady Quanta | SEM | |
| 2005 | Inspect | ano | Rutinní přístroj určený především pro kontrolní účely | SEM | |
| 2006 | Quanta FEG MKII | ano | Inovace rady Quanta FEG | SEM | |
| 2007 | Quanta 3D FEG | ano | Nový SDB střední třídy s ESEM technologií a autoemisní tryskou | SDB | |
| 2007 | Tecnai G2 30 | ano | Transmisní mikroskop 300kV pro široké využití | TEM | |
| 2008 | Magellan | ano | První SEM s extrémně vysokým rozlišením | SEM | |
| 2008 | Quanta 3D 200i | ano | Inovace řady Quanta 3D | SDB |
Trhy FEI Czech Republic, s.r.o. [editovat]
- Cca 50 % výrobků je distribuováno na evropském trhu nebo přes evropský trh servisováno. Pokrývá Rusko, Latinskou Ameriku, Arabského světa a Indii.
- Cca 20 – 30 % výrobků je distribuováno do USA a Kanady.
- Cca 20 – 30 % výrobků do zemí: Japonsko, Čína, Taiwan, Korea, Malajsie, Thajsko.
Členění přístrojového trhu [editovat]
Členění trhu dle odběratele [editovat]
| Polovodičový průmysl | Průmysl obecně | Vědecký výzkum |
|---|---|---|
Reference [editovat]
Externí odkazy [editovat]
- Oficiální web FEI (anglicky)
- Oficiální web brněnského Technologického parku (česky)
- Mikrosvěty v Brně vydělávají miliony Článek přejatý z www.vzdelavani.ihned.cz