FEI Company

Z Wikipedie, otevřené encyklopedie
Skočit na: Navigace, Hledání
FEI Company
Právní forma nadnárodní
Založeno Albuquerque, New Mexico, USA (4. duben 1975)
Sídlo Redmond, Washington, USA
Počet poboček Oregon
Klíčoví lidé Dr. Don R Kania, Prezident společnosti a CEO
Raymond A. Link, Výkonný viceprezident a CFO
Dr. Rob H.J. Fastenau, Výkonný vicepresident pro marketing s technologie
Robert S. Gregg, Výkonný viceprezident pro celosvětový prodej a služby
Bradley J. Thies, Vicepresident, General Counsel
Oblast výroby Vědecké a technické nástroje – elektronové mikroskopy
Vyráběné produkty FIB – fokusovaný iontový paprsek
Rastrovací elektronové mikroskopy
Transmisní elektronové mikroskopy
DualBeam™
Výsledek hospodaření 479.5 milionu dolarů
Počet zaměstnanců 1,770 (2010)
Oficiální web www.fei.com

FEI Company (NASDAQ) je společnost zabývající se vývojem a výrobou elektronových mikroskopů, byla založena v roce 1971. V současnosti jde o vedoucího dodavatele[1] elektronově a iontově optických zařízení pro širokou škálu výzkumníků, vývojářů i výrobců pracujících v nanometrech. Hlavními odběrateli jsou organizace působící v oblastech:

  • výzkumu a vývoje – 3D nanocharakterizace, 3D nanoprototypování, in situ nanoprocesy
  • přírodních věd – biomateriály, molekulární biologie, strukturální biologie, systémová biologie
  • elektroniky – 3D metrologie, editování integrovaných obvodů, analýza defektů elektronických součástek
  • průmyslu – automatizovaná mineralogie, kriminalistika, metalurgie, metrologie

Nástroje vyráběné FEI umožňují za pomoci elektronů a iontů analyzovat a manipulovat s částmi hmoty menšími než je hodnota jednoho angströmu, tedy menšími, než vlnová délka světla (na úrovni velikosti atomů). Nástroje FEI kombinují iontnová a elektronová záření (DualBeam™ systém (SDB)), poskytují 3D obraz a zjednodušují manipulovatelnost se vzorkem. FEI vyvíjí rastrovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronové mikroskopy a mimo jiné také komerčně využitelný mikroskop s celosvětově největším rozlišením[zdroj?]. Hlavní výzkumná střediska FEI sídlí v Severní Americe (HillsboroOregon, USA) a v Evropě (BrnoČeská republika, EindhovenNizozemí) a prodávají svá zařízení do více než 50 zemí celého světa.

Obsah

Historie [editovat]

FEI ve světě

  • 1949 - Philips Electron Optics uvádí na trh jako první na světě komerční využitelný transmisní elektronový mikroskop (TEM).
  • 1958 - Philips Electron Optics prolomil hranici dosavadní viditelnosti 10 Ångströmů pomocí TEM EM200.
  • 1971 – Založena společnost FEI, aby poskytovala vysoce čisté, orientované monokrystalické materiály pro výzkum autoemise.
  • 1981 – FEI rozvíjí (LMI – liquid metal ion source – iontový zdroj na bázi tekutého kovu)
  • 1982 - FEI prodává první tubuss iontovým svazkem používající zdroj na bázi tekutého kovu
  • 1983 - FEI prodává první tubus s elektrostaticky fokusovaným svazkem
  • Micrion is founded to develop ion beam systems for mask repair.)elektronový paprsek. Micrion se zaměřuje na rozvoj iontového paprsku pro opravu masek. Je založen Micrion, který vyvíjí systémy s iontovým svazkem pro opravy masek
  • 1985Micrion, vyvíjející systémy s iontovým svazkem pro opravy masek, prodává své první systémy.
  • 1989 - FEI prodává první kompletní FIB (zaostřený iontový svazek) pracovní stanici.
  • 1990 - Philips Electron Optics uvádí na trh SEM pro šestipalcové polovodičové substráty.
  • 1993 - První pracovní stanice DualBeam™ (zkřížený svazek elektronů a iontů pro diagnostiku struktur a jejich opracování včetně schopnosti vytvořit vzorek pro transmisní mikroskop, odprášení části vzorku a pohled do nitra vzorku) (FIB/SEM) produkovaná FEI a Philips Electron Optics.
  • 1995 - FEI prodává stou FIB pracovní stanici.
  • 1996 - FEI prodává pětitisící zdroj LMI. Micrion vydává svoji sérii 8000 FIB.
  • 1996 - Philips Electron Optics získává se společností ElectroScan také jejich technologii ESEM (schopnosti zobrazit jakýkoliv vzorek bez jeho předběžné úpravy včetně dynamických experimentů, dobrých izolantů atd).
  • 1996 - Philips Electron Optics získává Delmi Brno.
  • 1997 - FEI a Philips Electron Optics fúzují. Vzniká první in-line DualBeam Spojení elektronového a iontového tubusu (svazku) v jednom zařízení
  • 1998 - FEI a Micrion nezávisle na sobě nabízejí membránový ořez pro výpočetní průmysl (zálohování dat)
  • 1998 - Představen TEM (Tecnai) vše v jednom.
  • 1999 - FEI získává společnost Micrion Corporation a integruje její produktovou řadu.
  • 2000 - Představena první malá stanice DualBeam.
  • 2001 - FEI představuje DualBeam systém pro laboratoře.
  • 2001 - První monochromátor (přístroj vyčleňující úzký obor vlnových délek z širšího spektra elektromagnetického vlnění) TEM. První TEM s monochromátorem – elektronovým svazkem s minimalizovaným rozptylem energie primárních elektronů
  • 2002 - FEI získává společnost Atomika (SIMS).
  • 2003 - FEI získává společnost Revise Inc.
  • 2003 - FEI získává společnost Emispec.
  • 2004 - FEI prolamuje dosavadní bariéru[zdroj?] rozlišení 1 angström s přístrojem 200kV Tecnai™.
  • 2005 - FEI představuje transmisní elektronový mikroskop Titan se subangströmovým rozlišením
  • 2006 - Korigovaný transmisní elektronový mikroskop prolamuje hranici 0,5 angströmu
  • 2008 - FEI představuje Magellan, rastrovací elektronový mikroskop s extrémně vysokým rozlišením

Produkty FEI v Brně [editovat]

Brněnská pobočka FEI je poměrně úzce zaměřena na elektronové mikroskopy a FIB:

  • Tři základní typy transmisních mikroskopů (Morgagni, Tecnai Spirit a Tecnai 20, určeny 200kV, 120kV a 100kV mikroskopy), určeny většinou pro biologické aplikace.
  • Tři základní rodiny rastrovacích mikroskopů (Quanta, Magellan, Nova NanoSEM).
  • Přístroje se dvěma svazky elektronů a iontů (DualBeam) spojující SEM a FIB (Quanta, Quanta 3D FEG). Viz [1]
  • Moduly urychlovacích vysokonapěťových zdrojů od 30kV do 300kV (se stabilitou 10ppm resp lepší než 1ppm). Na stabilitě a přesnosti energetického zdroje záležela i stabilita a přesnost mikroskopu.
  • Autoemisní trysky pro rastrovací mikroskopy.
  • Iontové tubusy pro použití v zařízeních DualBeam, které vytvářejí a fokusují svazek iontů galia na preparátu velikosti stopy a průměru několik nanometrů pro zobrazení pomocí iontů.
Rok Typ přístroje Vyrábí se
v současnosti
Specifikace Typ Fotografie
1993 EM208 ne První (TEM) přístroj vůbec TEM
1996 EM208S ne Inovovaná verze původního přístroje s motorizovanými posuvy TEM
1997 XL30TMP ne První SEM přístroj, nárůst aktivit SEM
1998 XL30ESEM ne První přístroj s ESEM technologií SEM
2000 XL40ESEM ne První ESEM se stolkem 150x150mm SEM
2000 Morgagni ne Radikálně přepracovaná verze rutinního TEM se zabudovanou digitální kamerou TEM
2001 Quanta ne Nová rodina rutiních SEM s možností zobrazit a analyzovat jakýkoliv vzorek SEM
2002 Quanta HV ne Vysokovakuová verze nové rodiny SEM
2003 Quanta FEG ne První přístroj a autoemisní katodou s nejširším zaběrem použitých detekcí a technologií SEM
2003 Quanta 3D ano První SDB s ESEM technologií SDB
2004 Tecnai G2 Spirit ano Transmisní mikroskop 120kV pro široké využití TEM
2004 Tecnai G2 20 ano Transmisní mikroskop 200kV pro široké využití TEM
2005 Nova NanoSEM ano První ultravysokorozlišovací SEM SEM
2005 Quanta MkII ano Inovace řady Quanta SEM
2005 Inspect ano Rutinní přístroj určený především pro kontrolní účely SEM
2006 Quanta FEG MKII ano Inovace rady Quanta FEG SEM
2007 Quanta 3D FEG ano Nový SDB střední třídy s ESEM technologií a autoemisní tryskou SDB
2007 Tecnai G2 30 ano Transmisní mikroskop 300kV pro široké využití TEM
2008 Magellan ano První SEM s extrémně vysokým rozlišením SEM
2008 Quanta 3D 200i ano Inovace řady Quanta 3D SDB

Trhy FEI Czech Republic, s.r.o. [editovat]

Členění přístrojového trhu [editovat]

Členění trhu dle odběratele [editovat]

Polovodičový průmysl Průmysl obecně Vědecký výzkum

Reference [editovat]

  1. nasdaq.com - FEI Company Rings The NASDAQ Stock Market Opening Bell

Externí odkazy [editovat]